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  • 激光粒度儀

    Mastersizer 3000激光粒度儀 Mastersizer 3000E激光粒度儀

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    臺式XRF能譜儀一體機 X射線熒光光譜儀分析 臺式能量色散X射線熒光光譜儀 進口X射線熒光光譜儀 能量色散型X熒光光譜儀（EDXRF） 波長色散型X熒光光譜儀（WDXRF）

  • 納米粒度電位儀

    Zetasizer Advance 納米粒度及Zeta電位分析儀 Zetasizer 納米粒度儀

  • 在線粒度分析儀

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    微量熱差式掃描量熱儀 微量熱等溫滴定量熱儀

  • 顆粒圖像分析儀

    全自動顆粒粒度粒形分析儀 全自動粒度粒形和化學組分分析儀

  • 多檢測器凝膠色譜系統(tǒng)

    凝膠滲透色譜儀OMNISEC

  • 其它工業(yè)過程控制

    可控中子活化在線物料分析儀

  • 分子相互作用儀

  • Mastersizer 3000+馬爾文帕納科激光粒度儀
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  • Mastersizer 3000馬爾文帕納科激光粒度儀
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  • Mastersizer 3000E馬爾文帕納科激光粒度儀
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  • Epsilon1馬爾文帕納科臺式XRF能譜儀一體機
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  • Zetasizer Ultra馬爾文帕納科納米粒度電位儀
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  • Zetasizer Pro馬爾文帕納科納米粒度電位儀
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推薦展示

  • 馬爾文帕納科臺式XRF能譜儀一體機 馬爾文帕納科臺式XRF能譜儀一體機

    馬爾文帕納科臺式XRF能譜儀一體機Epsilon 1 是一款集成型能量色散型 XRF 分析器，其包括光譜儀、內(nèi)置計算機、觸摸屏和分析軟件。 Epsilon 1 采用激發(fā)和檢測技術(shù)的新成果，是低成本小型...

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  • 馬爾文帕納科納米粒度電位儀 馬爾文帕納科納米粒度電位儀

    馬爾文帕納科納米粒度電位儀Zetasizer Ultra 是用于測量顆粒與分子大小、顆粒電荷和顆粒濃度的系統(tǒng)，在結(jié)合了 Zetasizer Pro 和 Lab 所有特性和優(yōu)點的基礎(chǔ)上，增加了多角度動態(tài)...

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  • 馬爾文帕納科納米粒度電位儀 馬爾文帕納科納米粒度電位儀

    Zetasizer Pro馬爾文帕納科納米粒度電位儀是一款功能強大、用途廣泛的常規(guī)實驗室測量解決方案，可測量顆粒粒度、分子大小、電泳遷移率、Zeta 電位和分子量。 與以往型號相比，其粒度測量速度超過...

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  • 馬爾文帕納科納米粒度電位儀 馬爾文帕納科納米粒度電位儀

    納米粒度儀即使作為入門級納米粒度及Zeta電位分析儀，Zetasizer Lab 的功能也不容小覷。 馬爾文帕納科納米粒度電位儀Zetasizer Lab 采用經(jīng)典動態(tài)光散射（90°），包含...

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公司簡介

馬爾文帕納科用服務(wù)贏得口碑，以品質(zhì)樹立品牌

使用我們的技術(shù)可以測量顆粒粒度、形狀和濃度、化學名稱、Zeta電位、蛋白質(zhì)電荷、分子量、質(zhì)量和構(gòu)象、分子間相互作用和穩(wěn)定性、元素濃度、晶體結(jié)構(gòu)，元素及物相等參數(shù)。這些信息對于預測產(chǎn)品在使用過程中的表現(xiàn)、優(yōu)化其性能，從而實現(xiàn)高效制造至關(guān)重要。作為思百吉集團成員,馬爾文帕納科(中國)共有8個辦事處，總部位于上海，其他辦事處包括北京、廣州、武漢、沈陽、西安、深圳和成都。上海建有1600多平方米的粒度，形貌，X射線，GPC等設(shè)備的專業(yè)實驗室，完善的實驗室設(shè)備可以提供客戶售前測樣及其售后培訓的配套服務(wù)與優(yōu)...

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  • 20253-18
    增材專欄 | 顆粒大小和形狀對金屬粉末物理特性的影響

    除了化學性之外，金屬粉末的物理特性還決定這增材制造的性能，包括粉末的整體特性和單個金屬顆粒的特性。關(guān)鍵的整體特性是指堆積密度和流動性。堆積密度和流動性受顆粒粒度和形狀等形態(tài)特性的影響。本文將介紹顆粒粒度顆粒大小與形狀與粉末關(guān)鍵特性的關(guān)系，及其測量手段。01丨顆粒形狀和粉末流動性的關(guān)系金屬粉末關(guān)鍵的整體特性是堆積密度和流動性。堆積一致可提供高密度粉末，確保生產(chǎn)的組件缺陷少、質(zhì)量一致。另一方面，流動性與工藝效率有著更密切的聯(lián)系。影響流動性的顆粒特性包括剛度、孔隙度、表面織構(gòu)、密度...

  • 20253-17
    探秘微觀宇宙：納米顆粒跟蹤分析儀的非凡性能之旅

    納米顆粒跟蹤分析儀是一種基于光散射和布朗運動原理，用于檢測和分析液體懸浮液中納米顆粒粒度分布、濃度及zeta電位的先進儀器。是利用納米顆粒在懸濁液中受到周邊溶液分子的撞擊而做無規(guī)則的布朗運動的特性。儀器通過一束能量集中的激光照亮溶液中的顆粒，并通過光學顯微鏡收集納米顆粒的散射光信號，觀察并跟蹤其布朗運動軌跡。通過對這些軌跡進行分析，利用二維Stokes-Einstein方程可以計算出顆粒的流體力學半徑，進而得到粒度分布、濃度等信息。納米顆粒跟蹤分析儀的技術(shù)性能：1、高靈敏度低...

  • 20253-14
    不可忽視的細節(jié)：X射線熒光光譜儀的維護與保養(yǎng)全攻略！

    x射線熒光光譜儀是一種快速的、非破壞式的物質(zhì)測量方法。其基本原理是利用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時激發(fā)出次級X射線，即X射線熒光。當這些高能射線與樣品中的原子相互作用時，會將原子內(nèi)層的電子擊出，導致外層電子躍遷到內(nèi)層。當外層電子返回基態(tài)時，會釋放出特征X射線，這些特征X射線的能量或波長與元素的種類有關(guān)。通過檢測這些特征X射線，可以確定樣品中存在的元素種類及其含量。x射線熒光光譜儀的維護與保養(yǎng)措施：一、日常清潔表面清潔作用：保持儀器外觀整潔，防止灰塵等雜質(zhì)影響儀器散熱和外部...

  • 20253-12
    輕松掌握！激光噴霧粒度儀操作細節(jié)大公開！

    激光噴霧粒度儀是一種重要的粒度分析儀器，其基于激光散射原理進行工作。當一束激光照射到噴霧中的顆粒時，顆粒會對激光產(chǎn)生散射。散射光的強度和角度與顆粒的大小、形狀、折射率等因素有關(guān)。通過測量不同角度上的散射光強度，可以得到顆粒的粒度分布信息。這一原理依賴于米氏散射理論，即光線通過含有顆粒的不均勻介質(zhì)時，與顆粒產(chǎn)生相互作用，發(fā)生吸收、反射、折射、透射和衍射等現(xiàn)象，使得光線偏離原先的光路。激光噴霧粒度儀的操作細節(jié)主要包括以下幾個方面：一、測試前準備儀器檢查：確認儀器外觀無損壞，各部件...

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